■開発試験設備
衝撃耐圧試験装置 １号機
●SAE波形（フラット波形）：ベース圧力 10～56MPa
●JIS波形（インパルス波） ：ベース圧力 10～56MPa
ピーク圧力 ベース圧力×150％
●SAE波形（フラット波形）：ベース圧力 10～56MPa
●JIS波形（インパルス波） ：ベース圧力 10～56MPa
ピーク圧力 ベース圧力×150％
衝撃耐圧試験装置 ２号機
●SAE 波形（フラット波形）：ベース圧力 ５～ 35MPa
●JIS 波形 （ インパルス波）：ベース圧力 ５～ 35MPa
ピーク圧力 ベース圧力× 150％
●SAE 波形（フラット波形）：ベース圧力 ５～ 35MPa
●JIS 波形 （ インパルス波）：ベース圧力 ５～ 35MPa
ピーク圧力 ベース圧力× 150％
耐圧性能試験装置
加圧：Max 400Mpa
加圧：Max 400Mpa
振動試験装置
静的最大加振力：± 11.77kN
動的最大加振力：± 9.81kN
加振周波数：0.01 ～ 23.3Hz
加振波形：正弦波
静的最大加振力：± 11.77kN
動的最大加振力：± 9.81kN
加振周波数：0.01 ～ 23.3Hz
加振波形：正弦波
■検査設備
輪郭・形状測定装置
ＣＣＤカメラ式 三次元計測装置
寸法制度：± 0.3mm
寸法制度：± 0.3mm
