■開発試験設備
衝撃耐圧試験装置 1号機
●SAE波形(フラット波形):ベース圧力 10~56MPa
●JIS波形(インパルス波) :ベース圧力 10~56MPa
ピーク圧力 ベース圧力×150%
●SAE波形(フラット波形):ベース圧力 10~56MPa
●JIS波形(インパルス波) :ベース圧力 10~56MPa
ピーク圧力 ベース圧力×150%
衝撃耐圧試験装置 2号機
●SAE 波形(フラット波形):ベース圧力 5~ 35MPa
●JIS 波形 ( インパルス波):ベース圧力 5~ 35MPa
ピーク圧力 ベース圧力× 150%
●SAE 波形(フラット波形):ベース圧力 5~ 35MPa
●JIS 波形 ( インパルス波):ベース圧力 5~ 35MPa
ピーク圧力 ベース圧力× 150%
耐圧性能試験装置
加圧:Max 400Mpa
加圧:Max 400Mpa
振動試験装置
静的最大加振力:± 11.77kN
動的最大加振力:± 9.81kN
加振周波数:0.01 ~ 23.3Hz
加振波形:正弦波
静的最大加振力:± 11.77kN
動的最大加振力:± 9.81kN
加振周波数:0.01 ~ 23.3Hz
加振波形:正弦波
■検査設備
輪郭・形状測定装置
CCDカメラ式 三次元計測装置
寸法制度:± 0.3mm
寸法制度:± 0.3mm